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Paul r. Gray ; Paul j. Hurst ; Stephen h. Lewis ; Robert g. Meyer | Hoboken (New Jersey) [United States] : Wiley publisher | 2001The fourth edition features coverage of cutting edge topics--more advanced CMOS device electronics to include short-channel effects, weak inversion and impact ionization. In this resourceful book find: * Coverage of state-of-the- art IC processe[...]
Mention d'édition : 4th ed ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-32168-2 Article en page(s) : XVIII, 875 p. Index. décimale : 621.3.049.77 Tags : Integrated circuits Langues: Anglais
